SRM 1763b 低合金鋼標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST) 是一種低合金鋼，主要用于評估低合金鋼和類似基體材料中元素的分析方法。它可用于驗(yàn)證內(nèi)部參考資料的價值分配。 SRM 1763b 的一個單元由一個直徑約 34 毫米、厚 19 毫米的圓盤組成。

認(rèn)證質(zhì)量分?jǐn)?shù)值：

SRM 1763b 中成分的認(rèn)證值列在表 1 中，作為鋼基體中元素總量的質(zhì)量分?jǐn)?shù) [1]。 NIST 認(rèn)證值是 NIST 對其準(zhǔn)確性有最高置信度的值，因?yàn)樗幸阎蚩梢傻钠顏碓炊家驯豢紤]在內(nèi)帳戶 [2]。認(rèn)證值是對真實(shí)值的當(dāng)前最佳估計(jì)。認(rèn)證值在計(jì)量上可追溯至以百分比表示的 SI 派生的質(zhì)量分?jǐn)?shù)單位。擴(kuò)展的不確定性估計(jì)以大約 95 % 的覆蓋率表示，使用覆蓋因子 k = 2.00 [3,4]。 SRM 認(rèn)證的維護(hù)：NIST 將在其認(rèn)證期間監(jiān)控該材料。如果在本證書到期前發(fā)生影響認(rèn)證的實(shí)質(zhì)性技術(shù)變更，NIST 將通知購買者。注冊（見附件或在線注冊）將有助于通知。

儲存、處理和使用說明

SRM 1763b 低合金鋼標(biāo)準(zhǔn)品(美國NIST)測試表面是與標(biāo)記表面相對的一側(cè)，其中包括 SRM 編號。該裝置的整個厚度都經(jīng)過認(rèn)證。但是，警告用戶在使用 X 射線熒光光譜法時不要測量厚度小于 2 毫米的圓盤。每個封裝的磁盤都是通過使用銑削完成測試表面來準(zhǔn)備的機(jī)器。用戶必須為每種分析技術(shù)確定正確的表面處理程序。提醒用戶在重修磁盤或進(jìn)行額外拋光時要小心，因?yàn)檫@些過程可能會污染表面。 NIST 發(fā)現(xiàn)在表面磨削過程中必須經(jīng)常更換砂紙。用過的紙失去了去除鋼材表面污染物的能力。不使用時，應(yīng)將材料存放在其原始容器中，置于陰涼干燥的地方。使用實(shí)心圓盤和由圓盤制備的芯片測試該材料。